失锁-
发布时间：2010-09-10 13:18:54
失锁发布时间：2010-09-10 13:18:54
发现失锁时首先检查频率是否写错或超频, F1机多为锁相环晶振的供电IC损坏（印制为FS8853）, F4、F5多为12.8M晶振坏或IC31202坏，F8多为21.25M晶振坏。另F8-5K的晶体为12.8M
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